芯片過(guò)壓損壞原理

芯片過(guò)壓損壞原理是指在使用電子設(shè)備時(shí)，當(dāng)設(shè)備所接收到的電壓超過(guò)了芯片的額定電壓時(shí)，會(huì)引起芯片內(nèi)部的電路故障，從而導(dǎo)致芯片的損壞。

在電子設(shè)備的實(shí)際應(yīng)用中，可能會(huì)出現(xiàn)電壓波動(dòng)、電源干擾、瞬間高壓等情況，這些都可能會(huì)導(dǎo)致芯片受到過(guò)壓的影響。當(dāng)芯片受到過(guò)壓時(shí)，會(huì)引起芯片內(nèi)部的電場(chǎng)強(qiáng)度增大，從而導(dǎo)致電子的能隙發(fā)生變化，電子會(huì)躍遷到禁帶內(nèi)，形成一個(gè)電子-空穴對(duì)。這些電子-空穴對(duì)會(huì)在芯片內(nèi)部形成電流，而如果這些電流過(guò)大，就會(huì)導(dǎo)致芯片內(nèi)部的電路損壞。

除了電子-空穴對(duì)的形成，過(guò)壓還會(huì)引起芯片內(nèi)部的擊穿現(xiàn)象。當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度超過(guò)芯片材料的擊穿場(chǎng)強(qiáng)度時(shí)，就會(huì)導(dǎo)致芯片內(nèi)部的擊穿現(xiàn)象。這種擊穿現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致芯片內(nèi)部的電路短路，并可能引起火花放電，從而導(dǎo)致芯片的損壞。

為了避免芯片受到過(guò)壓的影響，設(shè)計(jì)師通常會(huì)在電路中添加過(guò)壓保護(hù)電路。這些保護(hù)電路通常包括電壓穩(wěn)壓器、瞬變電壓抑制器、浪涌電流保護(hù)器等，這些電路能夠有效地保護(hù)芯片免受過(guò)壓的影響。

總之，芯片過(guò)壓損壞原理是電子設(shè)備中一個(gè)非常重要的問(wèn)題，設(shè)計(jì)師需要在設(shè)計(jì)電路時(shí)充分考慮到這個(gè)問(wèn)題，采取相應(yīng)的保護(hù)措施，以確保芯片能夠正常工作并具有較長(zhǎng)的使用壽命。